從10G到40G/100G MPO光纖鏈路測試技術(shù)的變化
前言
科技改變生活，信息化是當今世界發(fā)展的大趨勢。物聯(lián)網(wǎng)，云計算，大數(shù)據(jù)等新興的網(wǎng)絡信息技術(shù)持續(xù)創(chuàng)新和應用，而在移動互聯(lián)技術(shù)上，3G網(wǎng)絡日趨成熟，4GLTE網(wǎng)絡從去年開始已經(jīng)在全國試點運行，移動互聯(lián)速度又將邁上了一個新臺階。在這個信息產(chǎn)業(yè)化的時代，我們工作生活的城市也在向智慧城市轉(zhuǎn)型，各種網(wǎng)絡應用與我們密切相關(guān)。無論是新興技術(shù)的應用還是智慧城市的建設(shè)，應用都離不開基礎(chǔ)網(wǎng)絡?；A(chǔ)網(wǎng)絡的建設(shè)以場地，有源的終端和互聯(lián)設(shè)備，以及構(gòu)建網(wǎng)絡的基礎(chǔ)互連通道--布線系統(tǒng)為主。布線系統(tǒng)需要在現(xiàn)場進行施工安裝，易受環(huán)境，產(chǎn)品質(zhì)量，安裝工藝等因素影響，是決定網(wǎng)絡傳輸質(zhì)量的最重要環(huán)節(jié)。布線系統(tǒng)的可靠性不僅取決于工程中的質(zhì)量監(jiān)督，更要嚴把最后一關(guān)，現(xiàn)場驗收測試。
測試技術(shù)發(fā)展的迫切性
目前，大部分中小型布線項目還是采用以萬兆為主干，實現(xiàn)千兆到桌面的網(wǎng)絡架構(gòu)。但是，隨著3G/4G和互聯(lián)網(wǎng)業(yè)務的快速發(fā)展，帶寬已經(jīng)不能夠滿足應用的需求，主干鏈路采用40G/100G成為大型布線項目，特別是企業(yè)數(shù)據(jù)中心和互聯(lián)網(wǎng)IDC數(shù)據(jù)中心項目建設(shè)的必然趨勢。根據(jù)IDC市場報告，預計2015年以后，40G/100G將逐步成為主流的端口速率。
自從2010年6月IEEE發(fā)布了802.3ba的40G/100G標準以來，40G/100G的網(wǎng)絡主要以實驗網(wǎng)為主，對現(xiàn)場測試要求較低。經(jīng)過2年多的系統(tǒng)研發(fā)測試，目前40G/100G的傳輸技術(shù)日趨成熟，各大廠商紛紛推出40G/100G的交換路由設(shè)備，電信級長距離主干鏈路采用單模光纖系統(tǒng)，而樓宇和數(shù)據(jù)中心的綜合布線系統(tǒng)主要以短距離的傳輸?shù)亩嗄M3/OM4光纖系統(tǒng)為主，采用12芯MPO的連接器，四通道/十通道的預連接光纜。預連接光纜大大減少安裝時間和人工成本，但是如何快速地識別光纖極性，快速并準確的測試鏈路的衰減成了現(xiàn)場測試的首要問題。
傳統(tǒng)光纖測試技術(shù)
首先，我們先來回顧一下原有千兆，萬兆光纖鏈路的測試技術(shù)。2003年，TIA-526-14-A多模光纜安裝光強度損失測試標準正式定義了CPR(CoupledPowerRatio)光耦合率的檢測方法，將光源分成5個等級（如下圖），LED光源是等級1的光源，VCSEL垂直腔面發(fā)射激光光源的等級介于等級3和等級4之間，F(xiàn)P激光光源相當于等級5的光源。同時，進一步提高了光損耗的測試極限值，1000BASE-SX應用于OM1光纖的最大損耗值為2.6dB;10GBASE-SR應用于OM3光纖的最大損耗值為2.6dB。該標準作為光纖鏈路測試的通用標準，不針對特定的網(wǎng)絡應用，強調(diào)檢測光信號傳輸時的正常狀態(tài)，建議使用LED光源測試多模光纖鏈路，這種方式可以檢測光纖鏈路的最差情況。而激光優(yōu)化過的VCSEL光源則用于檢測特定網(wǎng)絡應用的鏈路，如有源設(shè)備使用VCSEL光源或當前網(wǎng)絡準備升級使用VCSEL光源，此時測試得到的光纖損耗值比較接近網(wǎng)絡應用時的真實損耗值。
TIA-526-14-A標準被多個相關(guān)測試標準引用，如ANSI/TIA/EIA-568-B，ISO/IEC11801，ISO/IEC14763-3等標準。并且ANSI/TIA/EIA568-B.1.7.1和ISO/IEC14763-36.22還規(guī)定了使用50/62.5um多模光纖卷軸的尺寸和使用方法。卷軸通過盤繞光纖的方式充作模式過濾器，減少光源在光纜中產(chǎn)生的高次模，同時降低了使用不同光源造成的測試結(jié)果差異性，提高了多模光纖測試的穩(wěn)定性和可重復性。
10GMPO多芯光纖測試模型
相比較傳統(tǒng)使用LC,SC,ST等連接器的雙芯光纖，使用MPO連接器可以支持至少12芯光纖，MPO連接器主要使用于預連接光纜。因為MPO光纖存在12芯通道，TIA-568-C.0-2009B.4詳細分析了通道極性，針對雙工傳輸，主要有A,B,C三種種極性的連接方式。三種方式都是為了一個共同的目標----創(chuàng)建一個端到端的光收發(fā)通道，但是三種方式不能兼容，分別使用不同極性的的連接器和適配器。為了整條鏈路的兼容性和一致性，盡量考慮使用相同極性的連接器和適配器，比如使用的跳線極性都是A-B，適配器的類型都是KEYUP-KEYUP，否則極性不同會造成使用混亂，容易安裝出錯，造成鏈路故障。因此，10G光纖通道里，MPO主干鏈路的極性主要采用的C類方式（見下圖），兩端端口按對應數(shù)字編號內(nèi)部互通，光通道采用兩兩一組，交叉連接，如1---2,2---1，形成全雙工的收發(fā)通道。左右兩端通過MPO轉(zhuǎn)LC的模塊盒轉(zhuǎn)成LC接口，然后通過LC跳線連接設(shè)備，此種情況主要應用在數(shù)據(jù)中心高密度布線系統(tǒng)。
被測鏈路：
兩端為MPO-LCA模塊（MPO1-12口一一對應LC1-12口）的主干鏈路示意圖
1)設(shè)置基準:用1根LC-LC測試跳線連接測試儀的光源輸出口(LC)和功率計輸入口(LC)。
2)拔出光功率計輸入口跳線，接入另一根測試跳線。
3)接入被測光纖(兩端為MTP-LC模塊盒，中間是MTP-MTP預連接光纜)，將LC測試跳線分別接入兩端A模塊，一端為1口，另一端接2口。
4)記錄保存當前被測光纖通道的損耗值，然后將光源端LC跳線更換到A模塊的2口，光功率計端LC跳線更換到另一側(cè)A模塊的1口，記錄并保存，直到完成12個通道的損耗測試。
40G/100GMPO多芯光纖測試技術(shù)
2010年，802.3ba頒布的40G/100G的鏈路標準分別為40GBASE-SR4和100GBASE-SR10；使用MPO的連接器和適配器；OM3光纖的最大傳輸距離為100米，最大損耗值為1.9dB；OM4光纖的最大傳輸距離為150米，最大損耗值為1.5dB。40G/100G鏈路主要用于數(shù)據(jù)中心大流量數(shù)據(jù)傳輸，據(jù)第三方統(tǒng)計數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)中心88%的主干鏈路長度不超過100米。因此，基于OM3/OM4的MPO預連接光纜將成為40G/100G鏈路的首選。之前針對10G光纖鏈路測試定義的閥值，如LC連接器的閥值為0.75dB，允許存在多個連接器（大于兩個），熔接點的閥值為0.3dB已經(jīng)不再適用。新的40G/100G光纖主干鏈路將使用預連接光纜，鏈路中無熔接點和連接器，只需考慮兩端MPO連接器的損耗和光纜本身的損耗，盡可能的減少連接器的損耗，確保整條鏈路的衰減值在新標準的要求之內(nèi)。
影響40G/100G傳輸?shù)膬蓚€關(guān)鍵因素就是光源和光纖鏈路損耗。更加嚴格的損耗要求對傳統(tǒng)的LED光源測試方法提出了挑戰(zhàn)，原有LED光源的輸出功率低，發(fā)散角大，連接器損耗大，采用過滿注入（OFL—OverFilledLaunch）的方式。而使用VCSEL光源的有限注入法（UFL—UnderFilledLaunch），近場強度的光通道集中在中心范圍內(nèi)，在光纖中心的傳輸模式較少，發(fā)散角較小，有效地解決了LED光源的弊端。但是原有IEEE802.3，ANSI/TIA和ISO/IEC等相關(guān)標準只是針對LED光源進行了定義，同時考慮到價格因素，并且不同廠家VCSEL的光功率分布差異較大，因此針對40G/100G的測試的新標準沒有采用VCSEL光源進行定義。同樣，2006年頒發(fā)的ISO/IEC14763-3定義了MPD（ModalPowerDistribution）模態(tài)功率分布的方法，雖然通過波導陣列改善了耦合強度，但是同樣不能滿足40G/100G傳輸?shù)男枰?/p>
2010年10月，ANSI/TIA-526-14-B代替了ANSI/TIA-526-14-A，定義了EF(EncircledFlux）光源環(huán)形通量的測試方法，該方法同時定義在IEC61280-4-1標準中。EF通過模式調(diào)節(jié)器限制多模光源的發(fā)射條件，過濾高次模的光信號，使用代用EF控制器的跳線代替原有使用多模卷軸的普通測試跳線（如下圖）。當被測光纖連接器和測試設(shè)備連接器相同時，可以使用1或3條測試跳線；當被測光纖連接器和測試設(shè)備連接器不同時，使用3條測試跳線；測試跳線至少2米，不超過10米。環(huán)型通量可將損耗測量偏差從原有±40%降低至±10%，從而降低測量不確定性并提高每次測量的可重復性。
40G/100GMPO光纖測試模型
一條標準的MPO/MTP鏈路是由兩端兩根MPO跳線，兩個MPO適配器和MPO的預連接主干光纜組成。在TIA-568-C.0-2009B.4里，針對并行多通道傳輸，給出了A和B兩種方式（見下圖，Table5）。
為了保障鏈路的兼容性和單一性，施工和維護比較方便，特別是經(jīng)常插拔和更換的MPO跳線，在40G/100G布線系統(tǒng)中，方式B將會更多的被采納。40G和100G的通道數(shù)量不同，但是其傳輸鏈路模型是相同的，都是使用MPO/MTP接口進行端到端的傳輸。因此，我們以40G單通道傳輸為例，測試時需注意預連接光纜和跳線的端口端口類型----有引導針（公頭）和無引導針（母頭）。
被測MPO鏈路（母-母）：
傳統(tǒng)MPO多芯光纖測試模型----采用LC接口的光源和光功率計
1)設(shè)置基準:使用3段光纖跳線和2個LC適配器進行基準設(shè)置，光源輸出口端使用多模卷軸，如下圖所示。
2)將中間兩個LC適配器間的LC短跳線去掉，分別添加2根LC-MPO（公）的多芯短跳線，連接第1對LC，用于測試MPO第1,2口，如下圖所示。
3)將被測MPO光纖鏈路接入，進行測試，得出MPO第1,2口衰減值并保存。
4)斷開兩端LC適配器和多芯LC-MPO(公)跳線，按照B類極性進行余下5對鏈路的衰減測試。
由此可以看出，使用LC接口的光源和光功率進行40G/100G的鏈路測試，需要MPO轉(zhuǎn)到LC的扇形跳線，光源輸出口端接的跳線必須帶有多模卷軸，并且每測試一個通道都需要進行基準設(shè)置。因此，此方法操作比較復雜，每根MPO鏈路需測試12次，在大規(guī)模測試時，耗費較多時間。
最新MPO多芯光纖測試模型----采用MPO接口的光源和光功率計
目前市場上已經(jīng)有MPO接口的光纖現(xiàn)場測試設(shè)備，帶有EF控制光源，可以較好的滿足MPO光纖鏈路的現(xiàn)場測試。采用MPO接口適配器和MPO的基準跳線，設(shè)置相應的鏈路衰減門閥值，可以一次性進行12條鏈路的基準設(shè)置和衰減測試，自動檢測MPO光纖的極性并出具報告。需要注意被測MPO鏈路連接器有無引導針（公/母），即兩端都無引導針（母-母），兩端都有引導針（公-公），一端有引導針另一端無引導針（公-母）三種情況，選擇合適的基準跳線進行基準設(shè)置。下面以最常見的兩端都無引導針，即兩端都是母頭的MPO光纖鏈路模型進行測試。
被測MPO鏈路（母-母）：
1)設(shè)置基準:使用1根MPO(公-公)測試跳線連接光源和光功率計，進行基準測試。
2)斷開光功率計端跳線，再接入一根MPO(公-公)測試跳線。
3)將被測B類光纖鏈路接入，進行測試得到光纖極性和12根通道的損耗，保存測試結(jié)果。
4)重復步驟2）至3），進行下一根MPO（母-母）光纖鏈路的測試。
結(jié)束語
原有10GMPO測試的模型不再適合今后40G/100G的測試需要，LC接口的光源和光功率計導致MPO光纖鏈路測試次數(shù)和時間大大增加，一根12芯的MPO主干鏈路完整測試需要將近十分鐘，并且測試穩(wěn)定性較差。因此，需要使用帶有MPO接口的測試儀器進行測試。同時，EF環(huán)形通量控制代替了多模卷軸，增加了光纖鏈路測試的穩(wěn)定性和可靠性。100G傳輸采用十通道收和十通道發(fā)的模式較為復雜，IEEEP802.3bm40G/100G工作小組將會對100G的傳輸模式進行改進，原有的十通道的收發(fā)模式將會被四通道代替。作為40G/100G的下一代，高達400G的以太網(wǎng)傳輸標準即將在明年啟動，預計使用OM4光纖。MPO接口的光纖鏈路在今后的部署將會越來越廣，不再局限于電信運營商和數(shù)據(jù)中心等高端用戶，了解MPO光纖鏈路的傳輸模型和測試技術(shù)將有助于我們更好的駕馭未來的40G/100G高速通信傳輸通道。
參考文獻：
[1]TheneedforEncircledFlux,realorimaginaryAdrianYoung
前言
科技改變生活，信息化是當今世界發(fā)展的大趨勢。物聯(lián)網(wǎng)，云計算，大數(shù)據(jù)等新興的網(wǎng)絡信息技術(shù)持續(xù)創(chuàng)新和應用，而在移動互聯(lián)技術(shù)上，3G網(wǎng)絡日趨成熟，4GLTE網(wǎng)絡從去年開始已經(jīng)在全國試點運行，移動互聯(lián)速度又將邁上了一個新臺階。在這個信息產(chǎn)業(yè)化的時代，我們工作生活的城市也在向智慧城市轉(zhuǎn)型，各種網(wǎng)絡應用與我們密切相關(guān)。無論是新興技術(shù)的應用還是智慧城市的建設(shè)，應用都離不開基礎(chǔ)網(wǎng)絡?；A(chǔ)網(wǎng)絡的建設(shè)以場地，有源的終端和互聯(lián)設(shè)備，以及構(gòu)建網(wǎng)絡的基礎(chǔ)互連通道--布線系統(tǒng)為主。布線系統(tǒng)需要在現(xiàn)場進行施工安裝，易受環(huán)境，產(chǎn)品質(zhì)量，安裝工藝等因素影響，是決定網(wǎng)絡傳輸質(zhì)量的最重要環(huán)節(jié)。布線系統(tǒng)的可靠性不僅取決于工程中的質(zhì)量監(jiān)督，更要嚴把最后一關(guān)，現(xiàn)場驗收測試。
測試技術(shù)發(fā)展的迫切性
目前，大部分中小型布線項目還是采用以萬兆為主干，實現(xiàn)千兆到桌面的網(wǎng)絡架構(gòu)。但是，隨著3G/4G和互聯(lián)網(wǎng)業(yè)務的快速發(fā)展，帶寬已經(jīng)不能夠滿足應用的需求，主干鏈路采用40G/100G成為大型布線項目，特別是企業(yè)數(shù)據(jù)中心和互聯(lián)網(wǎng)IDC數(shù)據(jù)中心項目建設(shè)的必然趨勢。根據(jù)IDC市場報告，預計2015年以后，40G/100G將逐步成為主流的端口速率。
自從2010年6月IEEE發(fā)布了802.3ba的40G/100G標準以來，40G/100G的網(wǎng)絡主要以實驗網(wǎng)為主，對現(xiàn)場測試要求較低。經(jīng)過2年多的系統(tǒng)研發(fā)測試，目前40G/100G的傳輸技術(shù)日趨成熟，各大廠商紛紛推出40G/100G的交換路由設(shè)備，電信級長距離主干鏈路采用單模光纖系統(tǒng)，而樓宇和數(shù)據(jù)中心的綜合布線系統(tǒng)主要以短距離的傳輸?shù)亩嗄M3/OM4光纖系統(tǒng)為主，采用12芯MPO的連接器，四通道/十通道的預連接光纜。預連接光纜大大減少安裝時間和人工成本，但是如何快速地識別光纖極性，快速并準確的測試鏈路的衰減成了現(xiàn)場測試的首要問題。
傳統(tǒng)光纖測試技術(shù)
首先，我們先來回顧一下原有千兆，萬兆光纖鏈路的測試技術(shù)。2003年，TIA-526-14-A多模光纜安裝光強度損失測試標準正式定義了CPR(CoupledPowerRatio)光耦合率的檢測方法，將光源分成5個等級（如下圖），LED光源是等級1的光源，VCSEL垂直腔面發(fā)射激光光源的等級介于等級3和等級4之間，F(xiàn)P激光光源相當于等級5的光源。同時，進一步提高了光損耗的測試極限值，1000BASE-SX應用于OM1光纖的最大損耗值為2.6dB;10GBASE-SR應用于OM3光纖的最大損耗值為2.6dB。該標準作為光纖鏈路測試的通用標準，不針對特定的網(wǎng)絡應用，強調(diào)檢測光信號傳輸時的正常狀態(tài)，建議使用LED光源測試多模光纖鏈路，這種方式可以檢測光纖鏈路的最差情況。而激光優(yōu)化過的VCSEL光源則用于檢測特定網(wǎng)絡應用的鏈路，如有源設(shè)備使用VCSEL光源或當前網(wǎng)絡準備升級使用VCSEL光源，此時測試得到的光纖損耗值比較接近網(wǎng)絡應用時的真實損耗值。
TIA-526-14-A標準被多個相關(guān)測試標準引用，如ANSI/TIA/EIA-568-B，ISO/IEC11801，ISO/IEC14763-3等標準。并且ANSI/TIA/EIA568-B.1.7.1和ISO/IEC14763-36.22還規(guī)定了使用50/62.5um多模光纖卷軸的尺寸和使用方法。卷軸通過盤繞光纖的方式充作模式過濾器，減少光源在光纜中產(chǎn)生的高次模，同時降低了使用不同光源造成的測試結(jié)果差異性，提高了多模光纖測試的穩(wěn)定性和可重復性。
10GMPO多芯光纖測試模型
相比較傳統(tǒng)使用LC,SC,ST等連接器的雙芯光纖，使用MPO連接器可以支持至少12芯光纖，MPO連接器主要使用于預連接光纜。因為MPO光纖存在12芯通道，TIA-568-C.0-2009B.4詳細分析了通道極性，針對雙工傳輸，主要有A,B,C三種種極性的連接方式。三種方式都是為了一個共同的目標----創(chuàng)建一個端到端的光收發(fā)通道，但是三種方式不能兼容，分別使用不同極性的的連接器和適配器。為了整條鏈路的兼容性和一致性，盡量考慮使用相同極性的連接器和適配器，比如使用的跳線極性都是A-B，適配器的類型都是KEYUP-KEYUP，否則極性不同會造成使用混亂，容易安裝出錯，造成鏈路故障。因此，10G光纖通道里，MPO主干鏈路的極性主要采用的C類方式（見下圖），兩端端口按對應數(shù)字編號內(nèi)部互通，光通道采用兩兩一組，交叉連接，如1---2,2---1，形成全雙工的收發(fā)通道。左右兩端通過MPO轉(zhuǎn)LC的模塊盒轉(zhuǎn)成LC接口，然后通過LC跳線連接設(shè)備，此種情況主要應用在數(shù)據(jù)中心高密度布線系統(tǒng)。
被測鏈路：
兩端為MPO-LCA模塊（MPO1-12口一一對應LC1-12口）的主干鏈路示意圖
1)設(shè)置基準:用1根LC-LC測試跳線連接測試儀的光源輸出口(LC)和功率計輸入口(LC)。
2)拔出光功率計輸入口跳線，接入另一根測試跳線。
3)接入被測光纖(兩端為MTP-LC模塊盒，中間是MTP-MTP預連接光纜)，將LC測試跳線分別接入兩端A模塊，一端為1口，另一端接2口。
4)記錄保存當前被測光纖通道的損耗值，然后將光源端LC跳線更換到A模塊的2口，光功率計端LC跳線更換到另一側(cè)A模塊的1口，記錄并保存，直到完成12個通道的損耗測試。
40G/100GMPO多芯光纖測試技術(shù)
2010年，802.3ba頒布的40G/100G的鏈路標準分別為40GBASE-SR4和100GBASE-SR10；使用MPO的連接器和適配器；OM3光纖的最大傳輸距離為100米，最大損耗值為1.9dB；OM4光纖的最大傳輸距離為150米，最大損耗值為1.5dB。40G/100G鏈路主要用于數(shù)據(jù)中心大流量數(shù)據(jù)傳輸，據(jù)第三方統(tǒng)計數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)中心88%的主干鏈路長度不超過100米。因此，基于OM3/OM4的MPO預連接光纜將成為40G/100G鏈路的首選。之前針對10G光纖鏈路測試定義的閥值，如LC連接器的閥值為0.75dB，允許存在多個連接器（大于兩個），熔接點的閥值為0.3dB已經(jīng)不再適用。新的40G/100G光纖主干鏈路將使用預連接光纜，鏈路中無熔接點和連接器，只需考慮兩端MPO連接器的損耗和光纜本身的損耗，盡可能的減少連接器的損耗，確保整條鏈路的衰減值在新標準的要求之內(nèi)。
影響40G/100G傳輸?shù)膬蓚€關(guān)鍵因素就是光源和光纖鏈路損耗。更加嚴格的損耗要求對傳統(tǒng)的LED光源測試方法提出了挑戰(zhàn)，原有LED光源的輸出功率低，發(fā)散角大，連接器損耗大，采用過滿注入（OFL—OverFilledLaunch）的方式。而使用VCSEL光源的有限注入法（UFL—UnderFilledLaunch），近場強度的光通道集中在中心范圍內(nèi)，在光纖中心的傳輸模式較少，發(fā)散角較小，有效地解決了LED光源的弊端。但是原有IEEE802.3，ANSI/TIA和ISO/IEC等相關(guān)標準只是針對LED光源進行了定義，同時考慮到價格因素，并且不同廠家VCSEL的光功率分布差異較大，因此針對40G/100G的測試的新標準沒有采用VCSEL光源進行定義。同樣，2006年頒發(fā)的ISO/IEC14763-3定義了MPD（ModalPowerDistribution）模態(tài)功率分布的方法，雖然通過波導陣列改善了耦合強度，但是同樣不能滿足40G/100G傳輸?shù)男枰?/p>
2010年10月，ANSI/TIA-526-14-B代替了ANSI/TIA-526-14-A，定義了EF(EncircledFlux）光源環(huán)形通量的測試方法，該方法同時定義在IEC61280-4-1標準中。EF通過模式調(diào)節(jié)器限制多模光源的發(fā)射條件，過濾高次模的光信號，使用代用EF控制器的跳線代替原有使用多模卷軸的普通測試跳線（如下圖）。當被測光纖連接器和測試設(shè)備連接器相同時，可以使用1或3條測試跳線；當被測光纖連接器和測試設(shè)備連接器不同時，使用3條測試跳線；測試跳線至少2米，不超過10米。環(huán)型通量可將損耗測量偏差從原有±40%降低至±10%，從而降低測量不確定性并提高每次測量的可重復性。
40G/100GMPO光纖測試模型
一條標準的MPO/MTP鏈路是由兩端兩根MPO跳線，兩個MPO適配器和MPO的預連接主干光纜組成。在TIA-568-C.0-2009B.4里，針對并行多通道傳輸，給出了A和B兩種方式（見下圖，Table5）。
為了保障鏈路的兼容性和單一性，施工和維護比較方便，特別是經(jīng)常插拔和更換的MPO跳線，在40G/100G布線系統(tǒng)中，方式B將會更多的被采納。40G和100G的通道數(shù)量不同，但是其傳輸鏈路模型是相同的，都是使用MPO/MTP接口進行端到端的傳輸。因此，我們以40G單通道傳輸為例，測試時需注意預連接光纜和跳線的端口端口類型----有引導針（公頭）和無引導針（母頭）。
被測MPO鏈路（母-母）：
傳統(tǒng)MPO多芯光纖測試模型----采用LC接口的光源和光功率計
1)設(shè)置基準:使用3段光纖跳線和2個LC適配器進行基準設(shè)置，光源輸出口端使用多模卷軸，如下圖所示。
2)將中間兩個LC適配器間的LC短跳線去掉，分別添加2根LC-MPO（公）的多芯短跳線，連接第1對LC，用于測試MPO第1,2口，如下圖所示。
3)將被測MPO光纖鏈路接入，進行測試，得出MPO第1,2口衰減值并保存。
4)斷開兩端LC適配器和多芯LC-MPO(公)跳線，按照B類極性進行余下5對鏈路的衰減測試。
由此可以看出，使用LC接口的光源和光功率進行40G/100G的鏈路測試，需要MPO轉(zhuǎn)到LC的扇形跳線，光源輸出口端接的跳線必須帶有多模卷軸，并且每測試一個通道都需要進行基準設(shè)置。因此，此方法操作比較復雜，每根MPO鏈路需測試12次，在大規(guī)模測試時，耗費較多時間。
最新MPO多芯光纖測試模型----采用MPO接口的光源和光功率計
目前市場上已經(jīng)有MPO接口的光纖現(xiàn)場測試設(shè)備，帶有EF控制光源，可以較好的滿足MPO光纖鏈路的現(xiàn)場測試。采用MPO接口適配器和MPO的基準跳線，設(shè)置相應的鏈路衰減門閥值，可以一次性進行12條鏈路的基準設(shè)置和衰減測試，自動檢測MPO光纖的極性并出具報告。需要注意被測MPO鏈路連接器有無引導針（公/母），即兩端都無引導針（母-母），兩端都有引導針（公-公），一端有引導針另一端無引導針（公-母）三種情況，選擇合適的基準跳線進行基準設(shè)置。下面以最常見的兩端都無引導針，即兩端都是母頭的MPO光纖鏈路模型進行測試。
被測MPO鏈路（母-母）：
1)設(shè)置基準:使用1根MPO(公-公)測試跳線連接光源和光功率計，進行基準測試。
2)斷開光功率計端跳線，再接入一根MPO(公-公)測試跳線。
3)將被測B類光纖鏈路接入，進行測試得到光纖極性和12根通道的損耗，保存測試結(jié)果。
4)重復步驟2）至3），進行下一根MPO（母-母）光纖鏈路的測試。
結(jié)束語
原有10GMPO測試的模型不再適合今后40G/100G的測試需要，LC接口的光源和光功率計導致MPO光纖鏈路測試次數(shù)和時間大大增加，一根12芯的MPO主干鏈路完整測試需要將近十分鐘，并且測試穩(wěn)定性較差。因此，需要使用帶有MPO接口的測試儀器進行測試。同時，EF環(huán)形通量控制代替了多模卷軸，增加了光纖鏈路測試的穩(wěn)定性和可靠性。100G傳輸采用十通道收和十通道發(fā)的模式較為復雜，IEEEP802.3bm40G/100G工作小組將會對100G的傳輸模式進行改進，原有的十通道的收發(fā)模式將會被四通道代替。作為40G/100G的下一代，高達400G的以太網(wǎng)傳輸標準即將在明年啟動，預計使用OM4光纖。MPO接口的光纖鏈路在今后的部署將會越來越廣，不再局限于電信運營商和數(shù)據(jù)中心等高端用戶，了解MPO光纖鏈路的傳輸模型和測試技術(shù)將有助于我們更好的駕馭未來的40G/100G高速通信傳輸通道。
參考文獻：
[1]TheneedforEncircledFlux,realorimaginaryAdrianYoung