Santec(圣德科)源自日本,是光通信測試設(shè)備領(lǐng)域的專業(yè)品牌,憑借多年技術(shù)積淀,專注于高精度激光測試解決方案研發(fā),在全球光通信測試市場擁有較高認可度。
圣德科核心產(chǎn)品線以光測試設(shè)備為主,注重性能穩(wěn)定性與精度,其設(shè)備廣泛應(yīng)用于實驗室科研、工業(yè)生產(chǎn)等場景,為行業(yè)提供可靠的技術(shù)支持。
Santec TSL510 是圣德科推出的高精度可調(diào)諧激光光源,專為光通信研發(fā)與測試設(shè)計,覆蓋 1480-1640nm C+L 波段,適配多類精密光學測試需求。
產(chǎn)品具備 ±1pm 超高波長精度、±0.01dB 功率穩(wěn)定性,支持 100nm/s 高速掃描,集成低偏振相關(guān)損耗(PDL<0.05dB)與內(nèi)置波長校準功能,保障測試精準。
該設(shè)備由美佳特科技獨家供應(yīng),同時提供 TSL510 中文說明書、產(chǎn)品手冊及價格咨詢、技術(shù)答疑等配套服務(wù),覆蓋用戶采購與使用全流程。
寬波段與高精度兼顧:覆蓋 1480-1640nm C+L 波段,滿足光通信主流測試需求,±1pm 波長精度可精準定位測試波長,確保數(shù)據(jù)準確。
高穩(wěn)定性與高效率:±0.01dB 功率穩(wěn)定性減少長時間測試的信號波動,100nm/s 高速掃描模式大幅縮短測試時間,提升批量檢測效率。
低損耗與易操作:低偏振相關(guān)損耗(PDL<0.05dB)降低偏振對測試的干擾,內(nèi)置波長校準功能無需外部設(shè)備,用戶可自行完成校準,降低使用成本。
高適配與耐用:采用通用接口,可與主流光測試設(shè)備兼容,融入現(xiàn)有系統(tǒng);經(jīng)嚴格環(huán)境測試,在高低溫、濕度變化下穩(wěn)定運行,適應(yīng)多樣場景。
DWDM 測試:用于密集波分復用(DWDM)系統(tǒng),精準輸出多波長激光模擬信號,幫助測試信道隔離度、插入損耗等指標,保障系統(tǒng)穩(wěn)定。
光器件表征:適配光耦合器、光濾波器等光器件測試,通過調(diào)節(jié)波長與功率,檢測插入損耗、偏振相關(guān)損耗,支撐器件研發(fā)與質(zhì)量檢測。
硅光芯片測試:針對硅光芯片高精度測試需求,憑借 ±1pm 波長精度與低 PDL,檢測光傳輸效率、調(diào)制性能,助力芯片研發(fā)與質(zhì)量控制。
實驗室科研:作為高校、科研機構(gòu)的光通信實驗工具,提供穩(wěn)定精準的激光光源,支持新材料、新技術(shù)研究,輔助獲取準確實驗數(shù)據(jù)。
生產(chǎn)線檢測:用于光模塊、光纖跳線等產(chǎn)品的出廠檢測,通過高速掃描快速完成光性能測試,篩選不合格產(chǎn)品,確保出廠質(zhì)量達標。