一、品牌介紹
吉時(shí)利(Keithley)成立于1946年,現(xiàn)隸屬于泰克科技(Tektronix),擁有七十余年先進(jìn)電氣測(cè)試儀器研發(fā)與服務(wù)經(jīng)驗(yàn),專(zhuān)注為半導(dǎo)體、電子制造、科研教育等領(lǐng)域提供高精度測(cè)試測(cè)量設(shè)備與解決方案。公司產(chǎn)品在80多個(gè)國(guó)家和地區(qū)銷(xiāo)售,在中國(guó)設(shè)立完善的銷(xiāo)售與服務(wù)網(wǎng)絡(luò),扎根本土市場(chǎng)需求。
吉時(shí)利在低電平測(cè)量領(lǐng)域積淀深厚,憑借在直流電氣測(cè)量技術(shù)的優(yōu)勢(shì),研發(fā)出涵蓋皮安表、納伏表、數(shù)字源表等多個(gè)品類(lèi)的產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件測(cè)試、先進(jìn)材料研究、電子元器件生產(chǎn)等環(huán)節(jié)。多次榮獲R&D 100 Award等行業(yè)大獎(jiǎng),其測(cè)試儀器在全球工程師與科學(xué)家中樹(shù)立了可靠聲譽(yù),踐行“精準(zhǔn)測(cè)量解決方案提供者”的定位。
二、產(chǎn)品特點(diǎn)
雙通道同步測(cè)試:配備兩個(gè)獨(dú)立的皮安表/電壓源通道,支持多通道器件同步測(cè)量、多位置電流監(jiān)控與多傳感器數(shù)據(jù)采集,大幅提升測(cè)試效率,適配多引腳器件測(cè)試需求。
超高測(cè)量精度:具備6位半測(cè)量分辨率,電流測(cè)量分辨率達(dá)1fA,可精準(zhǔn)捕捉微弱電流信號(hào);支持2.000000nA至20mA多量程測(cè)量,精度達(dá)1.00%+2pA(特定條件下),保障測(cè)量數(shù)據(jù)可靠。
雙路偏置電源:搭載兩個(gè)獨(dú)立±30V偏置電源,可靈活為被測(cè)器件提供偏置電壓,適配不同電子器件的測(cè)試需求,提升測(cè)試場(chǎng)景適配性。
豐富數(shù)據(jù)處理功能:每通道配備3000點(diǎn)緩存,支持測(cè)試完成后批量數(shù)據(jù)發(fā)送;具備均值、中值濾波功能,支持相對(duì)讀數(shù)(REL)與對(duì)數(shù)顯示(LOG),便于數(shù)據(jù)處理與分析。
穩(wěn)定運(yùn)行特性:采用三同軸輸入設(shè)計(jì),保障最優(yōu)噪聲保護(hù);具備220V過(guò)載保護(hù)與堅(jiān)固機(jī)身設(shè)計(jì),可耐受過(guò)量溢出;工作溫度范圍覆蓋0~50℃,適配實(shí)驗(yàn)室與生產(chǎn)線長(zhǎng)期運(yùn)行需求。
便捷集成與操作:支持IEEE-488與RS-232接口,可輕松集成于自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng);一鍵式前面板設(shè)計(jì),無(wú)需復(fù)雜菜單即可完成功能配置;支持顯示開(kāi)關(guān)控制,避免光線對(duì)光敏器件測(cè)試的干擾。
三、產(chǎn)品規(guī)格
規(guī)格項(xiàng)目 | 詳細(xì)參數(shù) |
儀器類(lèi)型 | 雙通道皮安表/電壓源 |
測(cè)量通道 | 2個(gè)獨(dú)立測(cè)量通道,完全隔離 |
電流測(cè)量范圍 | 20mA~2nA,多量程可選;最小量程2.000000nA |
電流測(cè)量分辨率 | 1fA(2nA量程下) |
電流測(cè)量精度(23℃±5℃) | 1.00%+2pA(2nA量程,1NPLC,自動(dòng)調(diào)零開(kāi)啟) |
偏置電壓范圍 | 雙路獨(dú)立輸出,±30V |
顯示分辨率 | 6位半 |
數(shù)據(jù)緩存 | 每通道3000點(diǎn) |
接口類(lèi)型 | IEEE-488(GPIB)、RS-232 |
輸入保護(hù) | 220V過(guò)載保護(hù) |
工作溫度范圍 | 0℃~50℃ |
預(yù)熱時(shí)間 | 1小時(shí)(達(dá)到標(biāo)稱(chēng)精度需滿足) |
四、應(yīng)用場(chǎng)景
半導(dǎo)體器件測(cè)試:適配雙二極管、多引腳半導(dǎo)體器件、光電二極管等器件測(cè)試,可完成暗電流、漏電流等低電平信號(hào)測(cè)量,雙通道設(shè)計(jì)支持多器件同步測(cè)試,提升測(cè)試效率。
電子元器件生產(chǎn)測(cè)試:適用于二極管、晶體管、電阻、電容等元器件的批量生產(chǎn)測(cè)試,可完成裝配工藝檢測(cè)、最終性能測(cè)試與部件分級(jí),保障生產(chǎn)質(zhì)量與產(chǎn)能。
研發(fā)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試:適配先進(jìn)材料研究、超導(dǎo)性測(cè)試、納米技術(shù)研發(fā)等科研場(chǎng)景,1fA高分辨率可精準(zhǔn)捕捉微弱電流信號(hào),滿足科研過(guò)程中對(duì)測(cè)量精度的嚴(yán)苛需求,助力新技術(shù)研發(fā)。
質(zhì)量控制環(huán)節(jié):適用于電子器件及系統(tǒng)產(chǎn)品的質(zhì)量控制檢測(cè),可快速完成批量產(chǎn)品的低電平性能篩查,及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題,保障出廠產(chǎn)品一致性與可靠性。
自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)集成:支持IEEE-488與RS-232接口,可輕松集成于大規(guī)模自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),適配電子制造領(lǐng)域自動(dòng)化、標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試需求,提升測(cè)試流程效率。
特殊場(chǎng)景測(cè)量:可用于離子束監(jiān)測(cè)、電子顯微鏡配套測(cè)量等場(chǎng)景,穩(wěn)定的測(cè)量性能與抗干擾設(shè)計(jì),能適應(yīng)復(fù)雜測(cè)試環(huán)境,保障測(cè)量數(shù)據(jù)精準(zhǔn)。
